
分享:分液罐斜錐體夾套管縱縫不銹鋼對(duì)接接頭的相控陣超聲檢測(cè)
分液罐斜錐體夾套管縱縫不銹鋼對(duì)接接頭結(jié)構(gòu)復(fù)雜,無(wú)法采用射線檢測(cè)從內(nèi)壁和外壁進(jìn)行檢測(cè)[1]。其結(jié)構(gòu)為斜錐體夾套管縱縫,曲率一直在變化,且曲率半徑較小,常規(guī)A型脈沖反射法的檢測(cè)難度大、結(jié)果不直觀,且檢測(cè)靈敏度不理想,容易給設(shè)備埋下安全隱患。
文章對(duì)尺寸(直徑×壁厚,下同)為?232~348 mm×8 mm,材料為S30408的縱縫進(jìn)行相控陣超聲檢測(cè)試驗(yàn)分析,首先通過(guò)仿真分析PAUT檢測(cè)工藝,再通過(guò)缺陷響應(yīng)進(jìn)行工藝優(yōu)化,最后使用優(yōu)化后的檢測(cè)工藝對(duì)模擬試件進(jìn)行檢測(cè),以驗(yàn)證其可行性[2-4]。
1. 聲場(chǎng)仿真分析
針對(duì)尺寸為?232~348×8 mm,材料為S30408的試件,檢測(cè)時(shí),需將焊縫余高打磨平整。根據(jù)焊縫坡口等工藝參數(shù)建立1∶1工件模型,如圖1所示。通過(guò)仿真分析得到檢測(cè)工藝參數(shù),如表1所示。
序號(hào) | 探頭頻率/MHz | 楔塊角度/(°) | 波次 | 晶片數(shù)量 | 起始激發(fā)晶片 | 角度范圍/(°) | 探頭前端距/mm | 聚焦深度/mm |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
通道1 | 5 | 18.9 | 一次縱波 | 全激發(fā) | 1 | 10.0-89.5 | 0 | 25 |
通道2 | 5 | 18.9 | 一次縱波 | 全激發(fā) | 1 | 10.0-89.5 | 6 | 25 |
將表1中工藝參數(shù)加載至被檢工件模型上,經(jīng)仿真軟件計(jì)算分析,得到該聚焦法則下的不同探頭前端距的聲束覆蓋及聲場(chǎng)在工件中的分布情況,如圖2,3所示。
由圖2和圖3可知,聲束能覆蓋全部檢測(cè)區(qū)域,在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)聲場(chǎng)能量強(qiáng)且分布較均勻,初步驗(yàn)證了該檢測(cè)工藝的可行性,故將表1中參數(shù)作為初步制定的檢測(cè)工藝,在對(duì)比試塊和模擬試塊上進(jìn)行驗(yàn)證。
2. 檢測(cè)設(shè)備及器材
試驗(yàn)設(shè)備采用HS PA20-Fe型便攜式多功能相控陣超聲檢測(cè)儀,探頭選用DMA5-3×11×2-1.4×1.2型雙晶面陣探頭[5],楔塊選用18.9°的有機(jī)玻璃楔塊,選用拉線編碼器。檢測(cè)設(shè)備實(shí)物如圖4所示。
3. 相控陣超聲檢測(cè)工藝驗(yàn)證
3.1 對(duì)比試塊工藝驗(yàn)證
參照NB/T 47013.15—2021《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第15部分:相控陣超聲檢測(cè)》的相關(guān)技術(shù)要求設(shè)計(jì)了專用對(duì)比試塊,分別在焊縫中心處,距上表面深度分別為2,4,6 mm的位置制作尺寸為?2×40 mm(直徑×長(zhǎng)度)的焊縫中心長(zhǎng)橫孔,制作好的專用對(duì)比試塊缺陷示意及實(shí)物如圖5所示。
選用上述檢測(cè)設(shè)備及器材,按照表1的檢測(cè)工藝參數(shù)進(jìn)行設(shè)置,然后在專用對(duì)比試塊上進(jìn)行靈敏度調(diào)校,結(jié)果如圖6所示。
由圖6可知,該檢測(cè)工藝參數(shù)設(shè)置下的檢測(cè)信號(hào)信噪比較高,檢測(cè)效果良好,初步驗(yàn)證了工藝的可行性。然后,在模擬試塊上進(jìn)一步進(jìn)行工藝驗(yàn)證及優(yōu)化。
3.2 模擬試塊工藝驗(yàn)證
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及現(xiàn)場(chǎng)焊縫工藝,采用同種規(guī)格同種材料,以1∶1的比例進(jìn)行模擬試塊制作,缺陷參數(shù)如表2所示,專用模擬試塊缺陷位置示意及實(shí)物如圖7所示。
缺陷編號(hào) | 位置 | 長(zhǎng)度 | 深度 | 高度 | 缺陷性質(zhì) |
---|---|---|---|---|---|
A-2-F1 | 20 | 10 | 0 | 1.5 | 表面縱向裂紋 |
A-2-F2 | 70 | 5 | 5.0 | 2.0 | 橫向裂紋 |
A-3-F3 | 20 | 20 | 3.0 | 1.5 | 未熔合 |
A-3-F4 | 60 | 20 | 5.5 | 2.0 | 未焊透 |
采用試驗(yàn)得到的相控陣超聲檢測(cè)工藝,在模擬試塊上進(jìn)行工藝驗(yàn)證,檢測(cè)結(jié)果如表3所示(表中SL指定量線),缺陷圖譜如圖8所示。
缺陷編號(hào) | 位置/mm | 長(zhǎng)度/mm | 當(dāng)量/dB | 波幅區(qū)域 | 深度/mm | 缺陷性質(zhì) | 評(píng)定級(jí)別 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
A-2-F1 | 21 | 11 | SL+8.4 | Ⅲ區(qū) | 0 | 表面縱向裂紋 | Ⅲ |
A-2-F2 | 72 | 4 | SL+0.2 | Ⅱ區(qū) | 4.8 | 橫向裂紋 | Ⅲ |
A-3-F3 | 20 | 18 | SL+12.4 | Ⅲ區(qū) | 3.1 | 未熔合 | Ⅲ |
A-3-F4 | 61 | 19 | SL+1.8 | Ⅱ區(qū) | 6.5 | 未焊透 | Ⅲ |
由表3和圖8可知,采用現(xiàn)有檢測(cè)工藝,缺陷均能有效檢出,且檢測(cè)效果良好,長(zhǎng)度誤差在2 mm內(nèi),深度誤差在1 mm內(nèi),進(jìn)一步驗(yàn)證了相控陣超聲檢測(cè)的可行性。
3.3 射線檢測(cè)比對(duì)結(jié)果
該模擬試塊內(nèi)部未加夾套管,故可采用射線檢測(cè)對(duì)該試塊進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果如圖9所示。
由圖9可知,射線底片的缺陷顯示與預(yù)制的缺陷類型、尺寸基本一致,檢測(cè)效果良好,進(jìn)一步驗(yàn)證了相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)的準(zhǔn)確性和可行性。
4. 結(jié)論
(1)相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)可檢測(cè)出分液罐斜錐體夾套管縱縫不銹鋼對(duì)接接頭模擬試塊中的預(yù)制缺陷,信噪比較高,效果良好,檢測(cè)長(zhǎng)度誤差小于2 mm,深度誤差小于1 mm。
(2)將模擬試塊的相控陣超聲檢測(cè)結(jié)果與射線檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行比對(duì),發(fā)現(xiàn)相控陣超聲檢測(cè)缺陷檢出率不低于射線檢測(cè)的,但實(shí)際檢測(cè)中夾套管的存在使得射線檢測(cè)無(wú)法實(shí)施,而相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)有可行性,且檢測(cè)結(jié)果直觀可記錄。
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